Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

Challenges of reliability assessment and enhancement in autonomous systemsJenihhin, Maksim; Sonza Reorda, Matteo; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2019)2019 / 6 p https://doi.org/10.1109/DFT.2019.8875379

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

2

artikkel kogumikus

Composing graph theory and deep neural networks to evaluate SEU type soft error effectsBalakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, Maksim9th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO'2020), Budva, Montenegro, 8-11 June 20202020 https://doi.org/10.1109/MECO49872.2020.9134279

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

3

artikkel kogumikus

Enabling cross-layer reliability and functional safety assessment through ML-based compact modelsAlexandrescu, Dan; Balakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Glorieux, MaximilienProceedings : 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design : IOLTS 2020, Napoli, Italy, July 13-16, 2020 : virtual edition2020 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159750

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

4

artikkel kogumikus

Gate-level graph representation learning : a step towards the improved stuck-at faults analysisBalakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, Maksim; Lange, Thomas; Glorieux, MaximilienProceedings of the Twenty Second International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) : Santa Clara, USA, 7-9 April 20212021 / p. 24-30 https://doi.org/10.1109/ISQED51717.2021.9424256

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

5

artikkel kogumikus

Machine learning clustering techniques for selective mitigation of critical design featuresLange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, LucaProceedings : 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design : IOLTS 2020, Napoli, Italy, July 13-16, 2020 : virtual edition2020 / 7 p. : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159751

artikkel kogumikus

6

artikkel kogumikus

Machine learning to tackle the challenges of transient and soft errors in complex circuitsLange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Greece2019 / p. 7-14 : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854423

artikkel kogumikus

7

artikkel kogumikus

Modeling gate-level abstraction hierarchy using graph convolutional neural networks to predict functional de-rating factorsBalakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, Maksim2019 NASA/ESA conference on adaptive hardware and systems AHS 2019 : proceedings2019 / p. 72-78 : ill https://doi.org/10.1109/AHS.2019.00007

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

8

artikkel kogumikus

Modeling soft-error reliability under variabilityBalakrishnan, Aneesh; Cardoso Medeiros, Guilherme; Gürsoy, Cemil Cem; Hamdioui, Said; Jenihhin, Maksim; Alexandrescu, Dan2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 20212021 / p. 1-6 https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568295

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

9

artikkel kogumikus

On antagonism between side-channel security and soft-error reliability in BNN inference enginesLai, Xinhui; Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, MaksimIFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)2021 / p. 1-6 https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC53125.2021.9606981

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Approaches to extra-functional verification of security and reliability aspects in hardware designs = Riistvaraprojektide turva- ja töökindlusaspektide ekstrafunktsionaalse verifitseerimise lähenemisviisid

10

artikkel kogumikus

On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniquesLange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks - DSN 2019 : Supplemental Volume : proceedings2019 / p. 35-41 : ill https://doi.org/10.1109/DSN-S.2019.00021

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

11

artikkel kogumikus

RESCUE EDA Toolset for interdependent aspects of reliability, security and quality in nanoelectronic systems designGürsoy, Cemil Cem; Cardoso Medeiros, Guilherme; Chen, Juanho; Balakrishnan, Aneesh; Lai, Xinhui; Bagbaba, Ahmet Cagri; Raik, Jaan; Jenihhin, MaksimDATE 20192019 / 1 p. : ill https://doi.org/10.5281/zenodo.3362529 https://past.date-conference.com/

artikkel kogumikus

12

dissertatsioon

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseksBalakrishnan, Aneesh2022 https://doi.org/10.23658/taltech.11/2022 https://digikogu.taltech.ee/et/Item/a594d3ec-0e6b-4a78-819a-fe1f47992612

dissertatsioon

Seotud publikatsioonid 9

13

artikkel kogumikus

The validation of graph model-based, gate level low-dimensional feature data for machine learning applicationsBalakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, Maksim2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore2019 / 7 p https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906974

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

14

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functionalLai, Xinhui; Balakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Jenihhin, Maksim; Ghasempouri, Tara; Raik, Jaan; Alexandrescu, DanMicroprocessors and microsystems2019 / art. 102867, 13 p. : ill https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Seotud publikatsioonid 2

Balakrishnan, Aneesh (autor)

teaviku laadid

autor 2

tema kohta 1

CV 1