Damljanovic, A., Squillero, G., Gürsoy, C. C., Jenihhin, M.

täiskirje prindi

On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks

autor

Damljanovic, Aleksa

Squillero, Giovanni

Gürsoy, Cemil Cem

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Aleksa Damljanovic, Giovanni Squillero, Cemil Cem Güursoy, Maksim Jenihhin

allikas

VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]

ilmumiskoht

Piscataway

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2019

leheküljed

p. 335-340 : ill

konverentsi nimetus, aeg

27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, October 6-9, 2019

konverentsi toimumispaik

Cusco, Peru

leitav

https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313

ISSN

2324-8440

2324-8432

ISBN

978-1-7281-3915-9

978-1-7281-3916-6

märkused

Bibliogr.: 22 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

nanoelektroonika

rikked

võtmesõna

IJTAG

NBTI

aging

mitigation

Uurimisrühm

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Damljanovic, A., Squillero, G., Gürsoy, C. C., Jenihhin, M. On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks // VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]. Piscataway : IEEE, 2019. p. 335-340 : ill. https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313