An approach to system-level design for test

vastutusandmed
G.Jervan, R.Ubar, Z.Peng, P.Eles
ilmumiskoht
London
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 121-149 : ill
seeria-sari
Advanced microelectronics ; 17
ISSN
1437-0387
ISBN
1-85233-899-7
märkused
Bibliogr.: 21 ref