täiskirje prindi

In-field detection of degradation on PCB assembly high-speed buses

autor
vastutusandmed
Sergei Odintsov
allikas
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE AUTOTESTCON 2018, National Harbor, September 17-20, 2018
konverentsi toimumispaik
Maryland, USA
leitav
ISSN
1558-4550
ISBN
978-1-5386-5223-7
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Odintsov, S. In-field detection of degradation on PCB assembly high-speed buses // IEEE AUTOTESTCON 2018 : National Harbor, September 17-20, 2018 : proceedings. Piscataway : IEEE, 2018. 6 p.: ill. https://doi.org/10.1109/AUTEST.2018.8532547