Dedicated to the memory of Prof. M. Sheinkman effect of ultrasonic treatment on the defect structure of the Si-SiO2 system
autor
Kropman, Daniel
Dolgov, Sergei
Onufrijevs, Pavels
Dauksta, Edvins
vastutusandmed
D. Kropman, S. Dolgov, P. Onufrijevs, E. Dauksta
allikas
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XV
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
Trans Tech Publications
ilmumisaasta
2014
leheküljed
p. 352-357 : ill
seeria-sari
Solid state phenomena ; 205-206
konverentsi nimetus, aeg
15th Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, GADEST 2013, 22-27 September 2013
konverentsi toimumispaik
Oxford, UK
leitav
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.205-206.352
märksõna
struktuur
defektid
liidesed
ultraheli
ravi
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/21100305259
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84886782662&origin=inward&txGid=689574b4b5c8f661d063627c2f2df3e1
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=SOLID%20STATE%20PHENOM&year=2005
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000336338000051
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Materials science
Materjaliteadus
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
kategooria (alam)
Materials science. General materials science
Materjaliteadus. Üldine materjaliteadus
Physics and astronomy. Atomic and molecular physics, and optics
Füüsika ja astronoomia. Aatomi- ja molekulaarfüüsika ning optika
Physics and astronomy. Condensed matter physics
Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika
võtmesõna
defect structure
ESR
interface
ultrasonic treatment
ISSN
1012-0394
ISBN
978-303785824-0
märkused
Bibliogr.: 14 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
materjaliteaduse instituut
keel
inglise