Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Onufrijevs, Pavels (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(0/0)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Low-K factor of SiO2 layer on Si irradiated by YAG:Nd laser
Medvid, A.
;
Onufrijevs, Pavels
;
Mellikov, Enn
;
Kropman, Daniel
;
Muktepavela, F.
;
Bakradze, G.
Journal of non-crystalline solids
2007
/
p. 703-707 : ill
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Stress relaxation mechanism by strain in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
Kropman, Daniel
;
Mellikov, Enn
;
Kärner, Tiit
;
Laas, Tõnu
;
Medvid, Arthur
;
Onufrijevs, Pavels
;
Dauksta, Edvins
Solid state phenomena
2011
/
p. 259-262
artikkel ajakirjas
3
artikkel ajakirjas
Understanding and control of stress at Si-SiO2 interface
Kropman, Daniel
;
Seeman, Viktor
;
Medvids, Arturs
;
Onufrijevs, Pavels
;
Vitusevich, Svetlana
;
Mikli, Valdek
Key engineering materials
2020
/
p. 291−296
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.850.291
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT