Embedded synthetic instruments for board-level testing
vastutusandmed
Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev, Thomas Wenzel
allikas
ilmumiskoht
Los Alimitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
1 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS), May 28th–June 1st, 2012
konverentsi toimumispaik
Annecy, France
ISBN
978-1-4673-0697-3
märkused
Bibliogr.: 5 ref
keel
inglise
märksõna
Jutman, A., Devadze, S., Aleksejev, I., Wenzel, T. Embedded synthetic instruments for board-level testing // Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th–June 1st, 2012, Annecy, France. Los Alimitos : IEEE Computer Society, 2012. 1 p. : ill. https://ieeexplore.ieee.org/document/6233044