ML-based online design error localization for RISC-V implementations
autor
Selg, Hardi
Jenihhin, Maksim
Ellervee, Peeter
Raik, Jaan
vastutusandmed
Hardi Selg, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee, Jaan Raik
allikas
2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : IOLTS 2023 : July 3rd-5th, 2023, Platanias, Chania (Crete), Greece : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2023
leheküljed
7 p.
konverentsi nimetus, aeg
29th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2023, 3-5 July 2023
konverentsi toimumispaik
Chania Crete, Greece
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS59296.2023.10224864
märksõna
tehisõpe
tehisnärvivõrgud
mikroprotsessorid
arvutisüsteemid
võtmesõna
machine learning
microprocessor architecture
neural architecture search
online design error debug
ISBN
979-835034135-5
märkused
Bibliogr.: 28 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise