kompaktne vaade prindi

Conducted EMI emission evaluation considerations for test site and in-situ evaluation of DC microgrid supplied power converters

autor
Kütt, Lauri
Daniel, Kamran
Sharma, Hetal
Parker, Martin
Chub, Andrii
vastutusandmed
Lauri Kütt, Kamran Daniel, Hetal Sharma, Martin Parker, Andrii Chub
allikas
2025 IEEE Seventh International Conference on DC Microgrids (ICDCM)
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2025
leheküljed
5 p
konverentsi nimetus, aeg
7th IEEE International Conference on DC Microgrids (ICDCM 2025), June 4 - 6, 2025
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
https://doi.org/10.1109/ICDCM63994.2025.11144729
märksõna
elektromagnetiline ühilduvus
elektromagnetiline interferents
alalisvool
elektrivõrgud
elektriliinid
võtmesõna
electromagnetic compatibility
electromagnetic interference
direct current microgrid
line impedance stabilization network
ISBN
979-8-3315-1275-0
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
Department of Electrical Power Engineering and Mechatronics
keel
English
Kütt, L., Daniel, K., Sharma, H., Parker, M., Chub, A. Conducted EMI emission evaluation considerations for test site and in-situ evaluation of DC microgrid supplied power converters // 2025 IEEE Seventh International Conference on DC Microgrids (ICDCM). Tallinn : IEEE, 2025. 5 p. https://doi.org/10.1109/ICDCM63994.2025.11144729