Reliability evaluation of isolated buck-boost DC-DC series resonant converter
vastutusandmed
Abualkasim Bakeer, Andrii Chub, Yanfeng Shen
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 3
ilmumisaasta
leheküljed
p. 131-141
märksõna
võtmesõna
MIL-HDBK-217F handbook
FIDES approach
ISSN
2644-1314
märkused
Bibliogr.: 31 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
kvartiil
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Bakeer, A., Chub, A., Shen, Y. Reliability evaluation of isolated buck-boost DC-DC series resonant converter // IEEE open journal of power electronics (2022) vol. 3, p. 131-141. https://doi.org/10.1109/OJPEL.2022.3157200