Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cells

vastutusandmed
Siavoosh Payandeh Azad, Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 21-26 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 25-27 April, 2018
konverentsi toimumispaik
Budapest, Hungary
vormimärksõna
võtmesõna
two-dimensional array testing
multiplier test
data-controlled circuit partition
test replication
ISSN
2473-2117
ISBN
978-1-5386-5754-6
märkused
Bibliogr.: 21 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise