Structural test generation with employment of multiple observation time strategy
autor
Skobtsov, Vadim
vastutusandmed
Vadim Skobtsov
allikas
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 299-302: ill
märksõna
digitaaltehnika
seadmed
testimine
diagnostika (tehnika)
ISBN
9985-59-026-0
märkused
Bibl. 3 ref
keel
inglise