Fast extended test access via JTAG and FPGAs
autor
Devadze, Sergei
Jutman, Artur
Aleksejev, Igor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Sergei Devadze, Artur Jutman, Igor Aleksejev, Raimund Ubar
allikas
International Test Conference 2009 : November 1 - November 6, 2009, Austin Convention Center, Austin, Texas USA : proceedings
ilmumiskoht
Washington
kirjastus/väljaandja
International Test Conference
ilmumisaasta
2009
leheküljed
p. 1-7 : ill
konverentsi nimetus, aeg
40th International Test Conference ITC'2009, November 1-6, 2009
konverentsi toimumispaik
Austin, Texas
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/TEST.2009.5355668
märksõna
elektroonikaaparatuur
rikked
testimine
ISSN
1089-3539
ISBN
978-1-4244-4867-8
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise