A novel artificial neural networks based automatic adaptive fault detection technique for analog circuits
autor
Petlenkov, Eduard
Jutman, Artur
Nõmm, Sven
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
E.Petlenkov, A.Jutman, S.Nõmm, R.Ubar
allikas
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 167-170 : ill
konverentsi nimetus, aeg
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : the 11th Biennial Baltic Electronics Conference, October 6-8, 2008
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
märksõna
tehisnärvivõrgud
signaalid
analoogintegraallülitused
rikked
testimine
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-4244-2059-9
märkused
Bibliogr.: 9 ref
keel
inglise