On antagonism between side-channel security and soft-error reliability in BNN inference engines
autor
Lai, Xinhui
Lange, Thomas
Balakrishnan, Aneesh
Alexandrescu, Dan
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Xinhui Lai, Thomas Lange, Aneesh Balakrishnan, Dan Alexandrescu, Maksim Jenihhin
allikas
IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2021
leheküljed
p. 1-6
konverentsi nimetus, aeg
IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 04-07 October 2021
konverentsi toimumispaik
Singapore
leitav
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC53125.2021.9606981
märksõna
tehisnärvivõrgud
kvaliteet
kübersõda
võtmesõna
Binarized Neural Network (BNN)
soft-error reliability
logical de-rating
side-channel attack
Differential Power Analysis (DPA)
ISSN
2324-8440
ISBN
978-1-6654-2614-5
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus