prindi

Reliability of electroencephalogram-based individual markers - case study

autor
Uudeberg, Tuuli
Päeske, Laura
Hinrikus, Hiie
Lass, Jaanus
Bachmann, Maie
vastutusandmed
Tuuli Uudeberg, Laura Päeske, Hiie Hinrikus, Jaanus Lass, Mare Bachmann
allikas
2020 42nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC)
ilmumiskoht
Pistcataway, NJ
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 276 - 279
seeria-sari
Proceedings of the Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, EMBS ; Volume 2020-July
konverentsi nimetus, aeg
42nd Annual International Conferences of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, EMBC 2020, 20-24 July 2020
konverentsi toimumispaik
Montreal, Canada
leitav
https://doi.org/10.1109/EMBC44109.2020.9175274
märksõna
peaaju
fraktaalid
elektroentsefalograafia
psüühikahäired
Scopus
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
WOS
Article at WOS
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Arvutiteadus
Meditsiin
Tehnika
kategooria (alam)
Arvutiteadus. Arvutinägemine ja mustrituvastus
Arvutiteadus. Signaalitöötlus
Meditsiin. Terviseinformaatika
Tehnika. Biomeditsiinitehnika
võtmesõna
brain
fractal dimension
electroencephalography
ISSN
1557-170X
ISBN
978-172811990-8
märkused
Bibliogr.: 34 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
tervisetehnoloogiate instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Aju bioelektriliste signaalide uurimisrühm
Uudeberg, T., Paeske, L., Hinrikus, H., Lass, J., Bachmann, M. Reliability of electroencephalogram-based individual markers - case study // 2020 42nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC). Pistcataway, NJ : IEEE, 2020. p. 276 - 279. (Proceedings of the Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, EMBS ; Volume 2020-July). https://doi.org/10.1109/EMBC44109.2020.9175274