Incorporating service type in aging failure model of high voltage circuit breaker

vastutusandmed
Sajjad Asefi, Jako Kilter, Mart Landsberg
allikas
2023 27th International Conference Electronics : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
5 p
konverentsi nimetus, aeg
IEEE 27th International Conference ELECTRONICS 2023, 19th–21th June, 2023
konverentsi toimumispaik
Kaunas, Lithuania
märkused
Bibliogr.: 18 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
Asefi, S., Kilter, J., Landsberg, M. Incorporating service type in aging failure model of high voltage circuit breaker // 2023 27th International Conference Electronics : proceedings. Danvers : IEEE, 2023. 5 p. https://doi.org/10.1109/IEEECONF58372.2023.10177602