prindi

SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation

autor
Udal, Andres
Velmre, Enn
vastutusandmed
A.Udal and E.Velmre
allikas
Microelectronics and reliability
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37
ilmumisaasta
1997
leheküljed
10/11, p. 1671-1674
märksõna
dioodid
simulatsioon
ISSN
0026-2714
keel
inglise
Udal, A., Velmre, E. SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation // Microelectronics and reliability (1997) Vol. 37, 10/11, p. 1671-1674.