Rastello, M. L., Degiovanni, I. P., Kübarsepp, T. et al.

täiskirje prindi

Metrology for industrial quantum communications : the MIQC project

autor

Rastello, Maria Luisa

Degiovanni, I. P.

Kübarsepp, Toomas

vastutusandmed

M.L. Rastello, I.P. Degiovanni, ... T. Kubarsepp, ... [et al.]

allikas

Metrologia

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 51, 6

ilmumisaasta

2014

leheküljed

p. S267-S275 : ill

ISSN

0026-1394

märkused

Bibliogr.: 29 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

metroloogia

kvantkrüptograafia

kvantinformatsioon

võtmesõna

metrology

quantum cryptography

quantum communication

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

mehhatroonikainstituut

Rastello, M. L., Degiovanni, I. P., Kübarsepp, T. et al. Metrology for industrial quantum communications : the MIQC project // Metrologia (2014) Vol. 51, 6, p. S267-S275 : ill.