Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
metrology (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(4/28)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Compact two-element transmission trap detector for 1550 nm wavelength
Vaigu, Aigar
;
Kübarsepp, Toomas
;
Manoocheri, Farshid
Measurement science and technology
2015
/
p. 1-6 : ill
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
High-accuracy eddy current measurements of metals
Märtens, Olev
;
Land, Raul
;
Rist, Marek
;
Pokatilov, Andrei
2014 IEEE International Workshop On Metrology For Aerospace : May 29-30, 2014, Benevento, Italy : proceedings
2014
/
p. 155-160 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel ajakirjas
Metrology for industrial quantum communications : the MIQC project
Rastello, Maria Luisa
;
Degiovanni, I. P.
;
Kübarsepp, Toomas
Metrologia
2014
/
p. S267-S275 : ill
artikkel ajakirjas
4
artikkel kogumikus
The impact of metrology in industrial sector in Estonia
Simson, Kaarel
;
Kübarsepp, Toomas
Proceedings of the 8th International Conference of DAAAM Baltic Industrial Engineering, 19-21st April 2012, Tallinn, Estonia. 1
2012
/
p. 227-232 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Uncertainty evaluation of angle measurements by using 3D coordinate measurring machine
Dhoska, Klodian
;
Kübarsepp, Toomas
;
Hermaste, Aigar
Proceedings of the 9th International Conference of DAAAM Baltic Industrial Engineering, 24-26th April 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 221-225 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
allikas
16
1.
Transverse Disciplines in Metrology : proceedings of the 13th International Metrology Congress : 2007, Lille, France
2.
IEEE International Workshop on Metrology for the Sea ; Learning to Measure Sea Health Parameters (MetroSea)
3.
International Conference on Metrology of Environmental, Food and Nutrional Measurements : 9.-12.09.2008, Budapest, Hungary
4.
Optical metrology in production engineering
5.
Proc. 12th International Metrology Congress : Lyon, France
6.
Surface topography : metrology and properties
7.
Transverse disciplines in metrology
8.
XVII IMEKO World Congress : Metrology in the 3rd Millennium : June 22-27, 2003, Dubrovnik, Croatia : proceedings
9.
11th International Metrology Congress : 20-23 octobre, 2003, Toulon-France : proceedings
10.
16th International Congress of Metrology
11.
18th Metrology Symposium, Cavtat, Croatia, October 8-10, 2001 : symposimu digest
12.
2014 IEEE International Workshop On Metrology For Aerospace : May 29-30, 2014, Benevento, Italy : proceedings
13.
Industrie, qualité, économie : Métrologie 99 : 9e congrès international, 9th International Metrology Congress, [Bordeaux, France, 18 - 21 Octobre 1999 : actes des conférences, proceedings]
14.
Proceedings of the 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces : 12-14 April 2011, London
15.
XX IMEKO World Congress Metrology for Green Growth : September 9-14, 2012, Busan, Republic of Korea : [proceedings]
16.
15 International Congress of Metrology : Paris-France, 03.-06. October 2011
pealkiri
9
1.
An introduction to metrology
2.
Metrology for industrial quantum communications : the MIQC project
3.
The impact of metrology in industrial sector in Estonia
4.
The MIQC-project - metrology for industrial quantum communications
5.
Основы метрологии = Foundations of metrology [Онлайн-издание]
6.
Industrie, qualité, économie : Métrologie 99 : 9e congrès international, 9th International Metrology Congress, [Bordeaux, France, 18 - 21 Octobre 1999 : actes des conférences, proceedings]
7.
Sissejuhatus metroloogiasse : sõnavõtt Rein Laaneotsa ja Olev Mathieseni monograafia "An introduction to metrology" esitlusel 1. detsembril 2011 TTÜ raamatukogus
8.
The Moldovan Competition Authority finds that national standardization body has abused its exclusive right to provide training and certification services (National Institute for Standardization and Metrology) [electronic
9.
Tähelepanu äratanud teadustöö : monograafiast "An Introduction to Metrology" TUT Press, 2006, 271 lk. Autorid Rein Laaneots ja Olev Mathiesen
võtmesõna
2
1.
metrology
2.
temperature metrology
kirjastus/väljaandja
1
1.
Croatian Metrology Society
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT