Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
physical defects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/63)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
How to generate high quality tests for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
2004
/
p. 459-462 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Teaching advanced test issues in digital electronics
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic
2005
/
p. S2B-1 - S2B-6 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
63
1.
physical defects
2.
axial defects
3.
building defects
4.
critical-sized defects
5.
Deep defects
6.
defects
7.
insulation defects
8.
interface defects
9.
material defects
10.
non-defects
11.
pavement defects
12.
point defects
13.
radiation defects
14.
structural defects
15.
autonomous-semiautonomous mechanical physical systems
16.
cloud-based cyber-physical systems (C2PS)
17.
Cyber Bio-analytical Physical Systems (CBPSs)
18.
cyber physical energy systems
19.
cyber physical power system (CPPS)
20.
Cyber Physical Production System
21.
cyber physical production systems (CPPS)
22.
cyber physical social system
23.
cyber physical social systems (cpss)
24.
cyber physical system
25.
cyber-physical energy systems
26.
cyber-physical social system (CPSS)
27.
cyber-physical system
28.
Cyber-Physical System (CPS)
29.
cyber-physical system logistic robot
30.
cyber-physical systems
31.
Cyber-Physical Systems (CPS)
32.
fatty acid/physical chemistry
33.
fire-physical phenomenon
34.
impaired physical mobility
35.
mobile cyber-physical system
36.
oupled physical-biogeochemical modeling
37.
physical (PHY)
38.
physical activity
39.
physical activity classification
40.
physical and chemical processes
41.
physical asset management
42.
physical chemistry
43.
physical condition
44.
physical control channels
45.
physical design
46.
physical education
47.
physical experiment
48.
physical factors
49.
physical fatigue
50.
physical health
51.
physical layer
52.
physical mechanisms
53.
physical modeling
54.
physical overload
55.
physical overload disease
56.
physical properties
57.
physical unclonable function
58.
physical vapor deposition
59.
physical variations
60.
respect for the physical integrity
61.
Socio-Cyber-Physical Systems
62.
soil physical properties
63.
the accurate registration of the physical values
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT