Sadik, D.-P., Colmenares, J., Tolstoy, G., Rabkowski, J. et al.

Short-circuit protection circuits for silicon-carbide power transistors

autor

Sadik, Diane-Perle

Colmenares, Juan

Tolstoy, Georg

Rabkowski, Jacek

vastutusandmed

Diane-Perle Sadik, Juan Colmenares, Georg Tolstoy, Dimosthenis Peftitsis, Mietek Bakowski, Jacek Rabkowski, and Hans-Peter Nee

allikas

IEEE transactions on industrial electronics

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 63, 4

ilmumisaasta

2016

leheküljed

p. 1995-2004 : ill

leitav

https://doi.org/10.1109/TIE.2015.2506628

ISSN

0278-0046

märkused

Bibliogr.: 53 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

pooljuhid

bipolaartransistorid

rikked

võtmesõna

bipolar junction transistor (BJT)

driver circuits

failure analysis

fault detection

fault protection

junction field-effect transistor (JFET)

power MOSFET

semiconductor device reliability

short-circuit current

silicon carbide (SiC)

wide-bandgap semiconductors

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

elektrotehnika instituut

Sadik, D.-P., Colmenares, J., Tolstoy, G., Rabkowski, J. et al. Short-circuit protection circuits for silicon-carbide power transistors // IEEE transactions on industrial electronics (2016) vol. 63, 4, p. 1995-2004 : ill. https://doi.org/10.1109/TIE.2015.2506628