Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production
vastutusandmed
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
allikas
IEEE AUTOTESTCON 2017 : Schaumburg, USA, Sept 11-14, 2017 : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 336-334 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE AUTOTESTCON 2017, September 11-14, 2017
konverentsi toimumispaik
Schaumburg, USA
ISBN
978-1-5090-4922-6
märkused
Bibliogr.: 15 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
TTÜ märksõna
sardkontroller
võtmesõna
operating margin
no fault found
NFF
FPGA-centric test
high-speed serial link test
memory interconnect test
bit-error rate test
DDR4 interconnect test
Odintsov, S., Jutman, A., Devadze, S., Aleksejev, I. Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production // IEEE AUTOTESTCON 2017 : Schaumburg, USA, Sept 11-14, 2017 : proceedings. Piscataway : IEEE, 2017. p. 336-334 : ill.