prindi

Wear-out failure analysis of solar optiverter operating with 60- and 72-cell Si crystalline PV modules

autor
Liivik, Liisa
Chub, Andrii
Sangwongwanich, Ariya
Shen, Yanfeng
Vinnikov, Dmitri
Blaabjerg, Frede
vastutusandmed
Elizaveta Liivik, Andrii Chub, Ariya Sangwongwanich, Yanfeng Shen, Dmitri Vinnikov, Frede Blaabjerg
allikas
IECON 2018 - 44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2018
leheküljed
p. 6134-6140 : ill
konverentsi nimetus, aeg
44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2018), 20-23 October, 2018
konverentsi toimumispaik
Washington, DC, USA
leitav
https://doi.org/10.1109/IECON.2018.8592925
märksõna
fotogalvaanika
töökindlus
kulumine (tehnika)
modelleerimine (teadus)
võtmesõna
wear-out failure
optiverter
photovoltaic module
reliability
ISBN
978-1-5090-6684-1
märkused
Bibliogr.: 31 ref
TTÜ struktuuriüksus
elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Jõuelektroonika uurimisrühm
Liivik, E., Chub, A., Vinnikov, D., Blaabjerg, F. et al. Wear-out failure analysis of solar optiverter operating with 60- and 72-cell Si crystalline PV modules // IECON 2018 - 44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society : proceedings. Piscataway : IEEE, 2018. p. 6134-6140 : ill. https://doi.org/10.1109/IECON.2018.8592925