täiskirje prindi

Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentation

autor
vastutusandmed
Heiko Ehrenberg, Sergei Odintsov, Sergei Devadze, Artur Jutman, Igor Aleksejev, Thomas Wenzel
allikas
2019 IEEE AUTOTESTCON
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
10 p : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE AUTOTESTCON, 26-29 Aug. 2019
konverentsi toimumispaik
National Harbor, MD, USA
leitav
ISSN
1558-4550
1088-7725
ISBN
978-1-7281-2832-0
978-1-7281-2833-7
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
FPGA
FPGA-Embedded Instrument
FPGA-Assisted Test
Board and System Test
JTAG / boundary scan
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Ehrenberg, H., Odintsov, S., Devadze, S., Jutman, A., Aleksejev, I., Wenzel, T. Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentation // 2019 IEEE AUTOTESTCON. [S.l.] : IEEE, 2019. 10 p : ill. https://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057