prindi

Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentation

autor
Ehrenberg, Heiko
Odintsov, Sergei
Devadze, Sergei
Jutman, Artur
Aleksejev, Igor
Wenzel, Thomas
vastutusandmed
Heiko Ehrenberg, Sergei Odintsov, Sergei Devadze, Artur Jutman, Igor Aleksejev, Thomas Wenzel
allikas
2019 IEEE AUTOTESTCON
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
10 p : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE AUTOTESTCON, 26-29 Aug. 2019
konverentsi toimumispaik
National Harbor, MD, USA
leitav
https://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057
märksõna
programmeeritav ventiilmaatriks
elektroonika
testimine
võtmesõna
FPGA
FPGA-Embedded Instrument
FPGA-Assisted Test
Board and System Test
JTAG / boundary scan
ISSN
1558-4550
1088-7725
ISBN
978-1-7281-2832-0
978-1-7281-2833-7
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Ehrenberg, H., Odintsov, S., Devadze, S., Jutman, A., Aleksejev, I., Wenzel, T. Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentation // 2019 IEEE AUTOTESTCON. [S.l.] : IEEE, 2019. 10 p : ill. https://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057