Top-K formal concepts for identifying positively and negatively correlated biclusters
autor
Houari, Amina
vastutusandmed
Amina Houari & Sadok Ben Yahia
ilmumiskoht
Cham
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 156-172
seeria-sari
konverentsi nimetus, aeg
10th International Conference, MEDI 2021, Tallinn, Estonia, June 21-23, 2021
konverentsi toimumispaik
Virtual Conference
kvartiil
kategooria (üld)
kategooria (alam)
võtmesõna
biclustering
top-K formal concepts
DNA microarray data
positive correlation
negative correlation
ISSN
0302-9743
1611-3349
ISBN
978-3-030-78427-0
978-3-030-78428-7
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Houari, A., Yahia, S. B. Top-K formal concepts for identifying positively and negatively correlated biclusters // Model and Data Engineering : 10th International Conference, MEDI 2021, Tallinn, Estonia, June 21–23, 2021 : proceedings. Cham : Springer Nature, 2021. p. 156-172. (Lecture notes in computer science ; 12732). https://doi.org/10.1007/978-3-030-78428-7_13