Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
electron backscatter diffraction (EBSD) (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/34)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
EBSD investigation of microstructure and microtexture evolution on additively manufactured TiC-Fe based cermets—Influence of multiple laser scanning
Maurya, Himanshu Singh
;
Vikram, R. J.
;
Kumar, Rahul, 1993-
;
Rahmani Ahranjani, Ramin
;
Juhani, Kristjan
;
Sergejev, Fjodor
;
Prashanth, Konda Gokuldoss
Micron
2024
/
art. 103613
https://doi.org/10.1016/j.micron.2024.103613
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Microstructure and texture evolution during the manufacturing of in situ TiC-NiCr cermet through selective laser melting process
Aramian, Atefeh
;
Sadeghian, Zohreh
;
Wan, Di
;
Holovenko, Yaroslav
;
Razavi, Nima
;
Berto, Filippo
Materials Characterization
2021
/
art. 111289, 14 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.matchar.2021.111289
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
34
1.
electron backscatter diffraction (EBSD)
2.
electron backscattered diffraction analysis
3.
EBSD
4.
EBSD analysis
5.
diffraction
6.
diffraction grating
7.
single crystal X-ray diffraction
8.
synchrotron diffraction
9.
X ray powder diffraction
10.
X-ray diffraction
11.
X-Ray Diffraction (XRD)
12.
Auger electron spectroscopy
13.
electron
14.
electron beam induced current
15.
electron beam melting
16.
Electron beams
17.
electron density measurement
18.
electron donor number
19.
electron donor-acceptor complex
20.
electron holography
21.
electron irradiation
22.
electron linear accelerator
23.
electron microscopeGrain sizeHolocene Thermal MaximumBaltic SeaGulf of Riga
24.
electron microscopy
25.
electron phonon interaction
26.
electron tomography
27.
electron transport layer
28.
electron transporting materials
29.
lone pair electron
30.
scanning electron microscope
31.
scanning electron microscopy
32.
selective electron beam melting
33.
single electron transfer
34.
transmission electron microscopy
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT