prindi

Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs

autor
Abideen, Zain Ul
Wang, Rui
Perez, Tiago Diadami
Schrijen, Geert-Jan
Pagliarini, Samuel Nascimento
vastutusandmed
Zain Ul Abideen, Rui Wang, Tiago Diadami Perez, Geert-Jan Schrijen, Samuel Pagliarini
allikas
IEEE design & test
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2023
leheküljed
1 p
leitav
https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621
märksõna
orientatsioon
hoiakud
integraallülitused
riistvara
transistorid
pooljuhtseadised
võtmesõna
Entropy
Random access memory
Integrated circuits
Layout
Hardware security
Transistors
Semiconductor device measurement
ISSN
2168-2356
2168-2364
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Abideen, Z.U., Wang, R., Perez, T.D., Schrijen, G-J., Pagliarini, S.N. Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs // IEEE design & test (2023), 1 p. https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621