Martins, M.G.A., Pagliarini, S.N., Isgenc, M.M., Pileggi, L.

täiskirje prindi

From virtual characterization to test-chips : DFM analysis through pattern enumeration

autor

Martins, Mayler G.A.

Pagliarini, Samuel Nascimento

Isgenc, Mehmet Meric

Pileggi, Larry

vastutusandmed

Mayler G.A. Martins, Samuel N. Pagliarini, Mehmet Meric Isgenc, Larry Pileggi

allikas

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems

kirjastus/väljaandja

IEEE

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 39, no. 2

ilmumisaasta

2020

leheküljed

p. 520-532

leitav

https://doi.org//10.1109/TCAD.2018.2889772

ISSN

0278-0070

teaduspublikatsioon

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

integraallülitused

standardid (normid)

räni

litograafia

võtmesõna

Libraries

Microsoft Windows

Silicon

Layout

Lithography

Shape

Standards

Design for manufacturability

DFM analysis

pattern enumeration

test-chips

virtual characterization

Teaduspublikatsiooni meetrika

klassifikaator

1.1

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

Uurimisrühm

Riistvara turvalisuse keskus

Martins, M.G.A., Pagliarini, S.N., Isgenc, M.M., Pileggi, L. From virtual characterization to test-chips : DFM analysis through pattern enumeration // IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems (2020) vol. 39, no. 2, p. 520-532. https://doi.org//10.1109/TCAD.2018.2889772