täiskirje prindi

On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management

autor
vastutusandmed
Konstantin Shibin, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Sergei Devadze, Anton Tsertov
allikas
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p
konverentsi nimetus, aeg
36th IEEE InternationalSymposium on Defect andFault Tolerancein VLSIandNanotechnology Systems (DFT), 3-5 October 2023
konverentsi toimumispaik
Juan-les-Pins, France
leitav
ISSN
2765-933X
ISBN
979-8-3503-1500-4
märkused
Bibliogr.: 15 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
SOC
modern system-on-chips (SoCs)
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
on-chip sensor
health management
fault management
health map
self-awareness
Shibin, K., Jenihhin, M., Jutman, A., Devadze, S., Tsertov, A. On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management // 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). : IEEE, 2023. 6 p. https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562