Effect of ultrasonic treatment on the defect structure of the Si-SiO2 system

vastutusandmed
D. Kropman, V. Seeman, S. Dolgov, A. Medvids
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 13, 10-12
ilmumisaasta
leheküljed
p. 793 - 797
ISSN
1862-6351
märkused
Bibliogr.: 14 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
Kropman, D., Seeman, V., Dolgov, S., Medvids, A. Effect of ultrasonic treatment on the defect structure of the Si-SiO2 system // Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics (2016) vol. 13, 10-12, p. 793 - 797. https://doi.org/10.1002/pssc.201600052