Gramatova, E., Bezakova, J., Cibakova, T.*

täiskirje prindi

Test pattern generation at the behavioral level from VHDL circuit description containing several processes

autor

Gramatova, Elena

Bezakova, Jana

Cibakova, Tatiana

vastutusandmed

Elena Gramatova, Jana Bezakova, Tatiana Cibakova

allikas

BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings

ilmumiskoht

[Tallinn]

ilmumisaasta

1996

leheküljed

p. 145-148

ISBN

9985-59-026-0

märkused

Bibl. 14 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

VHDL (programmeerimiskeel)

testimine

elektriahelad

rikked

simulatsioon

Gramatova, E., Bezakova, J., Cibakova, T.* Test pattern generation at the behavioral level from VHDL circuit description containing several processes // BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings. [Tallinn], 1996. p. 145-148.