Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

201

artikkel kogumikus

DOT: new deterministic defect-oriented ATPG toolRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Sudbrock, Joachim; Kuzmicz, Wieslaw; Pleskacz, Witold A.European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings2005 / p. 96-101 : ill

artikkel kogumikus

202

artikkel kogumikus

Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Josifovska, Galina; Oyeniran, Adeboye StephenDSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal2015 / p. 700-705 : ill

artikkel kogumikus

203

artikkel kogumikus

Dynamic analysis of digital circuits with 5-valued simulationUbar, Raimund-JohannesMixed design of integrated circuits and systems1998 / p. 187-192: ill

artikkel kogumikus

204

artikkel ajakirjas

Dynamic analysis of digital circuits with multi-valued simulationUbar, Raimund-JohannesMicroelectronics journal1998 / 11, p. 821-826: ill

artikkel ajakirjas

205

artikkel kogumikus

Education environment for electronics and microsystemsAjaots, Maido; Min, Mart; Rang, Toomas; Ubar, Raimund-JohannesMicroelectronics education : proceedings of the European Workshop, Grenoble, France, 5-6 Feb 19961996 / p. 145-148: ill

artikkel kogumikus

206

artikkel kogumikus

Education environment for electronics and microsystemsAjaots, Maido; Min, Mart; Rang, Toomas; Ubar, Raimund-JohannesFirst European Workshop on Microelectronics Education, Villard de Lans, France, February 5-6, 1996 : proceedings1996 / p. 39

artikkel kogumikus

207

artikkel kogumikus

EE : Eesti (Estonia)Ubar, Raimund-Johannes; Rüstern, Ennu; Kruus, MargusTowards the harmonisation of Electrical and Information Engineering Education in Europe : 2003-20042003 / p. 67-74 : ill http://www.ester.ee/record=b2300874*est

artikkel kogumikus

208

artikkel ajakirjas

Eesti kõrgharidus ja teadus pankrotiohus?Ubar, Raimund-JohannesKultuurileht1995 / 20. jaan., lk. 6: ill

artikkel ajakirjas

209

artikkel ajalehes

Eesti mikroelektroonika osaleb maailma virtuaalses kaubamajasUbar, Raimund-JohannesEesti Päevaleht1998 / 12. veebr., Uus Meedia, lk. 6

artikkel ajalehes

210

artikkel kogumikus

Eesti teaduse tippkeskus infotehnoloogia teaduskondaUbar, Raimund-Johannes; Fridolin, Ivo; Min, MartTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 20082009 / lk. 19-26

artikkel kogumikus

211

artikkel ajakirjas

Eesti Teadusfond vastutab grantide eestUbar, Raimund-JohannesEesti Päevaleht1996 / 25. nov., lk. 6: ill

artikkel ajakirjas

212

artikkel ajalehes

Eesti Vabariigi 1999. aasta tehnikateaduste [R.Ubarile antud] aastapreemia tagamaadestUbar, Raimund-JohannesTehnikaülikool1999 / 5. apr., lk. 4-5

artikkel ajalehes

213

artikkel ajalehes

Eestilt Euroopale : [Euroopa nanotehnika foorumil osales Eestist Raamprogrammi FP7 projekt DIAMOND, mida juhib TTÜ arvutitehnika instituudi professor Jaan Raik]Ubar, Raimund-JohannesMente et Manu2012 / lk. 8 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

214

artikkel ajalehes

Eestis valmis üliväike hiiglanePõldre, Jüri; Ubar, Raimund-JohannesUus Meedia : Eesti Päevalehe lisa1997 / 13. nov., lk. 6

artikkel ajalehes

215

artikkel kogumikus

Efficient hierarchical approach to test generation for digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Raik, JaanIEEE ISQED 2000 : proceedings of the IEEE 2000 1st International Symposium on Quality Electronic Design : March 20-22, 2000, San Jose, California2000 / p. 189-195 : ill

artikkel kogumikus

216

artikkel kogumikus

Efficient single-pattern fault simulation on structurally synthesized BDDsRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Devadze, Sergei; Jutman, ArturDependable Computing - EDCC-5 : 5th European Dependable Computing Conference : Budapest, Hungary, April 20-22, 2005 : proceedings2005 / p. 332-344 : ill

artikkel kogumikus

217

artikkel kogumikus

Ein universeller Weg zur Automatisierung des Testentwurfs für digitale ObjecteUbar, Raimund-Johannes; Lohuaru, TõnuFehler in Automaten1989 / S. 16-30 : Ill

artikkel kogumikus

218

artikkel kogumikus

E-learning environment for WEB-based study of testingUbar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Raik, Jaan; Devadze, Sergei; Jenihhin, Maksim; Aleksejev, Igor; Tšepurov, Anton; Tšertov, Anton; Kostin, Sergei; Orasson, Elmet; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 8th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2010 : Darmstadt, Germany, 10-12 May 20102010 / p. 47-52 : ill

artikkel kogumikus

219

artikkel kogumikus

E-learning environment in the area of digital microelectronicsJutman, Artur; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichITHET 2004 : proceedings of the Fifth International Conference on Information Technology based Higher Education and Training : 31 May - 2 June, 2004, Istanbul, Turkey2004 / p. 278-283 : ill

artikkel kogumikus

220

artikkel kogumikus

E-learning tool and excercises for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Orasson, ElmetProceedings of the 2nd IEEE Conference on Signals, Systems, Decision and Information Technology : Sousse, Tunisia, 20032003 / [6] p. : ill

artikkel kogumikus

221

artikkel kogumikus

E-learning tool and excercises for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Orasson, ElmetProceedings of the 2nd IEEE Conference on Signals, Systems, Decision and Information Technology : Sousse, Tunisia, 2003 : summaries / p. 134

artikkel kogumikus

222

artikkel kogumikus

E-learning tools for digital testDevadze, Sergei; Gorjachev, R.; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Rosin, Vjatšeslav; Ubar, Raimund-JohannesProc. III International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" : Minsk, Belorussia, 20032003 / p. 336-342

artikkel kogumikus

223

artikkel kogumikus

E-learning tools for teaching self-test of digital electronicsJutman, Artur; Gramatova, Elena; Pikula, T.; Ubar, Raimund-Johannes15 EAEEIE International Conference on Innovation in Education for Electrical and Information Engineering : Sofia, Bulgaria, May 27-29, 20042004 / p. 267-272 : ill

artikkel kogumikus

224

artikkel kogumikus

Electronics Competence Centre at Tallinn Technical UniversityUbar, Raimund-Johannes; Vainomaa, KaidoBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 21994 / p. 597-602: ill

artikkel kogumikus

225

artikkel ajakirjas

Electronics Competence Centre at the Tallinn Technical UniversityUbar, Raimund-JohannesBaltic electronics1995 / 2, p. 9-11

artikkel ajakirjas

teaviku laadid

autor 55

CV 55

tema kohta 27

märksõna 1