Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

176

artikkel ajakirjas

System-level data format exploration for dynamically allocated data structuresEllervee, Peeter; Miranda, Miguel; Catthoor, Francky; Hemani, AhmedIEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems2001 / 12, p. 1469-1472 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/969440

artikkel ajakirjas

177

dissertatsioon

System-level design of timing-sensitive network-on-chip based dependable systems = Kiipvõrkudel põhinevate ajakriitiliste ja töökindlate süsteemide kõrgtaseme disainTagel, Mihkel2012 https://www.ester.ee/record=b2778263*est

dissertatsioon

178

artikkel ajakirjas

Z-RAM-mäluToomsalu, ArvoA & A2008 / 3, lk. 10-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1022321*est

artikkel ajakirjas

179

artikkel ajalehes

TalTechi arvutisüsteemide professori uudne tehnoloogia raskendab spionaaži [Võrguväljaanne]Kald, Indrekituudised.ee2021 "TalTechi arvutisüsteemide professori uudne tehnoloogia raskendab spionaaži

artikkel ajalehes

180

artikkel kogumikus

Teaching advanced test issues in digital electronicsUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic2005 / p. S2B-1 - S2B-6 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318

artikkel kogumikus

181

artikkel kogumikus

Teaching digital test with BIST analyzerJutman, Artur; Tšertov, Anton; Tšepurov, Anton; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 123-128 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171

artikkel kogumikus

182

artikkel ajalehes

Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputadaPort, Kristjandelfi.ee2023 Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputada

artikkel ajalehes

183

artikkel ajalehes

Tehnikaülikooli teadlased loovad uue põlvkonna veakindlaid kiipeNõges, KrõõtMente et Manu2010 / lk. 2 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

184

artikkel ajalehes

Tehnikaülikooli teadlaste juhtimisel luuakse uue põlvkonna veakindlaid kiipeStudioosus2010 / veebr., lk. 8 https://www.ester.ee/record=b1558644*est

artikkel ajalehes

185

artikkel ajakirjas

10th IEEE European Test SymposiumUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Raik, JaanIEEE journal of design & test of computers2005 / p. 480-481 : phot http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106

artikkel ajakirjas

186

artikkel kogumikus

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switchesRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Govind, Vineeth12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 29-34 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41

artikkel kogumikus

187

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus

188

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST of core-based systemsJervan, Gert; Eles, Petru; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China2003 / p. 318-325 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x

artikkel kogumikus

189

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcastingUbar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Jervan, Gert; Peng, ZeboIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 112-116 : ill https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

artikkel kogumikus

190

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 31st ASEE/IEEE Frontiers in Educations Conference : FIE'2001 : Reno, Nevada2001 / p. SIE-2-7 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

191

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichFIE 2001 : 31st Annual Frontiers in Educations Conference : Impact on Engineering and Science Education : Reno, Nevada, October 10-13, 2001 : conference program2001 / p. 83 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

192

artikkel ajalehes

Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim JenihhinJenihhin, Maksimforte.delfi.ee2024 Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin

artikkel ajalehes

193

artikkel kogumikus

Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDsUbar, Raimund-Johannes; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Jutman, Artur12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 131-136 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43

artikkel kogumikus

194

artikkel kogumikus

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checkingRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, AnnaProceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan2008 / p. 21-26 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22

artikkel kogumikus

195

artikkel kogumikus

Using Tabu search method for optimizing the cost of hybrid BISTKruus, Helena; Ubar, Raimund-Johannes; Jervan, Gert; Peng, Z.XVI Conference on Design of Circuits and Integrated Systems : Porto, Portugal, 20012001 / p. 445-450 https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=e97bb394ff71aa0affcc5fb372404bbc246888a8

artikkel kogumikus

196

artikkel ajakirjas

Uudne turvaline kiibitehnoloogiaRaik, JaanMente et Manu2021 / lk. 32-33 : fot Mente et Manu 2/2021

artikkel ajakirjas

197

artikkel ajalehes

Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkondaBioneer.ee2023 Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda

artikkel ajalehes

198

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Versatile direct and transpose matrix multiplication with chained operations : an optimized architecture using circulant matricesIakymchuk, Taras; Rosado-Munoz, Alfredo; Mompean, Manuel Bataller; Villora, Jose Vicente Frances; Osimiry, Emmanuel OvieIEEE Transactions on Computers2016 / p. 3470 - 3479 https://doi.org/10.1109/TC.2016.2538235 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

199

artikkel kogumikus

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

artikkel kogumikus

200

artikkel ajalehes

Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbileHärmat, Karinerr.ee2023 Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile

artikkel ajalehes

integraallülitused (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1