Otsing - TalTech teadusportaal

2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC ProcessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1