IEEE European Test Symposium (ETS)
autor
vastutusandmed
Stephan Eggersglüß, Said Hamdioui, Artur Jutman, Maria K. Michael, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Mehdi Tahoori, Elena-IoanaVatajelu
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
4 p
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
konverentsi toimumispaik
Washington, DC, USA
ISSN
2378-2250
1089-3539
ISBN
978-1-7281-4823-6
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
asutuse kohta
European Test Symposium (ETS)
kohamärksõna
WOS
kvartiil
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
Eggersgluss, S., Hamdioui, S., Jutman, A., Michael, M.K., Raik, J. et al. IEEE European Test Symposium (ETS) // 2019 IEEE International Test Conference (ITC). [S.l.] : IEEE, 2019. 4 p.