Otsing - TalTech teadusportaal

Pattern based analysis of fractal manufacturing systems [Electronic resource] (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Pattern based analysis of fractal manufacturing systems [Electronic resource]Jääger, Kadi; Vain, JüriINCOM 2004 : 11th IFAC Symposium on Information Control Problems in Manufacturing : Salvador, Brasil, April 5-7, 2004 : preprints proceedings2005 / [6] p. [CD-ROM] https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1474667017361529

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1