Otsing - TalTech teadusportaal

Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chips (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chipsAzad, Siavoosh Payandeh; Niazmand, Behrad; Janson, Karl; Kogge, Thilo; Raik, Jaan; Jervan, Gert; Hollstein, Thomas2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)2017 / p. 1476-1479 : ill https://doi.org/10.1109/ISCAS.2017.8050634 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1