prindi

Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chips

autor
Azad, Siavoosh Payandeh
Niazmand, Behrad
Janson, Karl
Kogge, Thilo
Raik, Jaan
Jervan, Gert
Hollstein, Thomas
vastutusandmed
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
allikas
2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 1476-1479 : ill
konverentsi nimetus, aeg
50th IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2017, 28.-31. May, 2017
konverentsi toimumispaik
Baltimore, United States
leitav
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2017.8050634
märksõna
kiipvõrgud
marsruutimine
algoritmid
Scopus
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
WOS
Article at WOS
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Tehnika
kategooria (alam)
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
võtmesõna
turn model
routing algorithm
robustness
minimal path
network-on-chip
ISSN
2379-447X
0271-4310
ISBN
978-1-4673-6852-0
märkused
bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Azad, S.P., Niazmand, B., Janson, K., Raik, J., Jervan, G., Hollstein, T. et al. Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chips // 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS). Piscataway : IEEE, 2017. p. 1476-1479 : ill. https://doi.org/10.1109/ISCAS.2017.8050634