Otsing - TalTech teadusportaal

2017 6th International Conference on Reliability, Infocom Technologies and Optimization (Trends and Future Directions) (ICRITO 2017) : Noida, India 20-22 September 2017 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Model based testing of distributed time critical systemsVain, Jüri; Kanter, Gert; Srinivasan, Seshadhri2017 6th International Conference on Reliability, Infocom Technologies and Optimization (Trends and Future Directions) (ICRITO 2017) : Noida, India 20-22 September 20172017 / p. 99-105 : ill https://doi.org/10.1109/ICRITO.2017.8342406

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1