Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Hardware trojan insertion in finalized layouts : from methodology to a silicon demonstrationPerez, Tiago Diadami; Pagliarini, Samuel NascimentoIEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems2023 / p. 2094-2107 https://doi.org/10.1109/TCAD.2022.3223846 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Seotud publikatsioonid 1

2

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Hybrid protection of digital FIR filtersAksoy, Levent; Nguyen, Quang-Linh; Almeida, Felipe; Raik, Jaan; Flottes, Marie-Lise; Dupuis, Sophie; Pagliarini, Samuel NascimentoIEEE transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems2023 / p. 812-825 : ill https://doi.org/10.1109/TVLSI.2023.3253641 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

3

artikkel ajakirjas

Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFsAbideen, Zain Ul; Wang, Rui; Perez, Tiago Diadami; Schrijen, Geert-Jan; Pagliarini, Samuel NascimentoIEEE design & test2024 / p. 14-20 https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621

artikkel ajakirjas

Seotud publikatsioonid 1

4

artikkel kogumikus

OTA-C realization of PIλ brake and throttle controllers for autonomous vehiclesDimeas, Ilias; Psychalinos, Costas; Elwakil, Ahmed; Tepljakov, Aleksei2017 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD 2017) : Catania, Italy, 4 - 6 September, 20172017 / p. 39-40 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ECCTD.2017.8093229

artikkel kogumikus

5

artikkel ajakirjas

SALSy : security-aware layout synthesisEslami, Mohammad; Perez, Tiago Diadami; Pagliarini, Samuel NascimentoarXiv.org2024 / 13 p. : ill https://doi.org/10.48550/arXiv.2308.06201

artikkel ajakirjas

Seotud publikatsioonid 1

6

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Split-chip design to prevent IP reverse engineeringPagliarini, Samuel Nascimento; Sweeney, Joseph; Mai, Ken; Blanton, Shawn; Mitra, Subhasish; Pileggi, LarryIEEE Design and Test2020 / p. 109-118 https://doi.org/10.1109/MDAT.2020.3033255 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

7

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Seotud publikatsioonid 1