Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
IEEE (kirjastus/väljaandja)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2248
Vaata veel..
(3/11)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1000*)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1001
artikkel kogumikus
High-level combined deterministic and pseudo-exhuastive test generation for RISC processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
1002
artikkel kogumikus
High-level decision diagrams based coverage metrics for verification and test
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATW 2009 : 10th IEEE Latin American Test Workshop : Buzios, Rio de Janero, Brazil, March 2-5, 2009
2009
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2009.4813792
artikkel kogumikus
1003
artikkel kogumikus
High-level design error diagnosis using backtrace on decision diagrams
Raik, Jaan
;
Repinski, Urmas
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
28th Norchip Conference : Tampere, Finland, 15-16 November 2010 : conference program and papers
2010
/
[4] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHIP.2010.5669486
artikkel kogumikus
1004
artikkel kogumikus
High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022
2022
/
p. 32-37
https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019
artikkel kogumikus
1005
artikkel kogumikus
High-level intellectual property obfuscation via decoy constants
Aksoy, Levent
;
Nguyen, Quang-Linh
;
Almeida, Felipe
;
Raik, Jaan
;
Flottes, Marie-Lise
;
Dupuis, Sophie
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
2021 IEEE 27th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : Torino, Italy, 28-30 June 2021
2021
/
p. 1-7
https://doi.org/10.1109/IOLTS52814.2021.9486714
artikkel kogumikus
1006
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
1007
artikkel kogumikus
High-level synthesis of control and memory intensive communication systems
Ellervee, Peeter
Eighth Annual IEEE International ASIC Conference and Exhibit : proceedings : Stouffer Renaissance Austin Hotel, Austin, Texas, September 18-22, 1995
1995
/
p. 185-191 : ill
artikkel kogumikus
1008
artikkel kogumikus
High-level test data generation for software based self-test in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jasnetski, Artjom
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) : including ECYPS'2017 : proceedings : research monograph : Bar, Montenegro, June 11th-15th, 2017
2017
/
p. 86-91 : ill
https://doi.org/10.1109/MECO.2017.7977167
artikkel kogumikus
1009
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
1010
artikkel kogumikus
High-level test synthesis with hierarchical test generation
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings
1999
/
p. 291-296
artikkel kogumikus
1011
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
High-performance buck-boost partial power quasi-Z-source series resonance converter
Abdel-Rahim, Omar
;
Chub, Andrii
;
Mashinchi Maheri, Hamed
;
Blinov, Andrei
;
Vinnikov, Dmitri
IEEE Access
2022
/
p. 13017-130189
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2022.3225751
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
1012
artikkel kogumikus
High-performance hardware accelerators for sorting and managing priorities
Sklyarov, Valery
;
Skliarova, Iouliia
;
Mihhailov, Dmitri
;
Sudnitsõn, Aleksander
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany
2011
/
p. 313-318 : ill
artikkel kogumikus
1013
artikkel kogumikus
A High-performance open-source finite element analysis library for magnetics in MATLAB
Lehikoinen, Antti
;
Davidsson, T.
;
Arkkio, Antero
;
Belahcen, Anouar
2018 XIII International Conference on Electrical Machines (ICEM 2018) : Alexandroupoli, Greece, 3-6 September 2018
2018
/
p. 486–492 : ill
http://doi.org/10.1109/ICELMACH.2018.8507235
artikkel kogumikus
1014
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
High-performance quasi-Z-source series resonant DC-DC converter for photovoltaic module-level power electronics applications
Vinnikov, Dmitri
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Roasto, Indrek
IEEE transactions on power electronics
2017
/
p. 3634-3650 : ill
https://doi.org/10.1109/TPEL.2016.2591726
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
1015
artikkel ajakirjas
High-speed design of postquantum cryptography with optimized hashing and multiplication
Imran, Malik
;
Aikata, Aikata
;
Roy, Sujoy Sinha
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE Transactions on Circuits and Systems II : Express Briefs
2023
/
p. 847-851 : ill
https://doi.org//10.1109/TCSII.2023.3273821
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Hardware realization of lattice-based post-quantum cryptography = Võrel põhinev post-kvant-krüptograafia riistvaraline realisatsioon
1016
artikkel kogumikus
High-voltage auxiliary power supply with the simplified power circuit topology for the DC trains [Electronic resource]
Vinnikov, Dmitri
;
Laugis, Juhan
Proceedings of the 9th International Conference "Electrical Power Quality and Utilisation" : EPQU'2007 : Barcelona, Spain, October 9-11, 2007
2007
/
[6] p. [CD-ROM]
https://ieeexplore.ieee.org/document/4424227
artikkel kogumikus
1017
artikkel kogumikus
Higuchi fractal dimension and spectral entropy as measures of depth of sedation in intensive care unit
Anier, Andres
;
Lipping, Tarmo
;
Melto, S.
;
Hovilehto, S.
Proceedings of the 26th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society : San Francisco, CA, USA, September 1-5, 2004. Vol. 1
2004
/
p. 526-529 : ill
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/17271729/
artikkel kogumikus
1018
artikkel kogumikus
Hilbert transform, an effective replacement of Park's vector modulus for the detection of rotor faults
Asad, Bilal
;
Vaimann, Toomas
;
Kallaste, Ants
;
Rassõlkin, Anton
;
Belahcen, Anouar
2019 Electric Power Quality and Supply Reliability Conference (PQ) & 2019 Symposium on Electrical Engineering and Mechatronics (SEEM), Kärdla, Estonia, June 12-15, 2019 : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/PQ.2019.8818227
artikkel kogumikus
1019
artikkel kogumikus
HLS-based optimization of tau triggering algorithm for LHC: a case study
Cherezova, Natalia
;
Mihhailov, Dmitri
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
2022 18th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC)
2022
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/BEC56180.2022.9935599
artikkel kogumikus
1020
artikkel kogumikus
A holistic D-PMU optimal placement framework considering pragmatic constraints in smart grids
Farhizadan, Mohammadreza
;
Karrari, Mehdi
;
Gharehpetian, Gevork B.
;
Ahmadiahangar, Roya
;
Kilter, Jako
;
Rosin, Argo
IEEE 16th International Conference on Compatibility, Power Electronics, and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2022
/
7 p.
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG54966.2022.9880881
artikkel kogumikus
1021
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Home energy management systems: A review of the concept, architecture, and scheduling strategies
Han, Binghui
;
Zahraoui, Younes
;
Mubin, Marizan
;
Mekhilef, Saad
;
Seyedmahmoudian, Mehdi
;
Stojcevski, Alex
IEEE Access
2023
/
p. 19999-20025
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2023.3248502
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
1022
artikkel kogumikus
How much is too much - equilibrium points for good export and R&D intensity : data of world top 2000 companies
Rungi, Mait
;
Ida, Andres
IEEM 2015 : 2015 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management : 6-9 December 2015, Singapore
2015
/
p. 1556-1560 : tab
http://dx.doi.org/10.1109/IEEM.2015.7385908
artikkel kogumikus
1023
artikkel kogumikus
How much "Talent" is meeded for organizational learning? A study of labor market entrants in an innovation-oriented country
Rungi, Mait
2018 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM 2018) : Bangkok, Thailand, 16-19 December 2018
2018
/
p- 361-365 : ill
https://doi.org/10.1109/IEEM.2018.8607440
artikkel kogumikus
1024
artikkel kogumikus
How online lurking contributes value to e-participation : a conceptual approach to evaluating the role of lurkers in e-participation
Edelmann, Noella
;
Krimmer, Robert Johannes
;
Parycek, Peter
2017 Fourth International Conference on eDemocracy & eGovernment (ICEDEG 2017) : Quito, Ecuador, 19-21 April 2017
2017
/
p. 86-93
https://doi.org/10.1109/ICEDEG.2017.7962517
artikkel kogumikus
1025
artikkel kogumikus
How to build a SOC on a budget
Vaarandi, Risto
;
Mäses, Sten
2022 IEEE International Conference on Cyber Security and Resilience (CSR)
2022
/
p. 171-177 : ill
https://doi.org/10.1109/CSR54599.2022.9850281
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2248, kuvan
1001 - 1025
eelmine
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
järgmine
võtmesõna
9
1.
IEEE 1149.1
2.
IEEE 1687
3.
IEEE 802.15.6
4.
IEEE 802156
5.
IEEE 9 bus test system
6.
IEEE C37.118.1
7.
IEEE P1687
8.
IEEE Std. 1687
9.
24th IEEE International Conference on Industrial Technology 2023
TTÜ märksõna
1
1.
IEEE
märksõna
1
1.
IEEE
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT