Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
IEEE (kirjastus/väljaandja)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2613
Vaata veel..
(3/11)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1000*)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
2026
artikkel kogumikus
Reinforcement learning for optimal renewable energy sources scheduling
Nejad, Hamid Mohammad
;
Asefi, Sajjad
;
Kilter, Jako
IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies Conference Europe (ISGT Europe 2024) : proceedings
2024
/
5 p
https://doi.org/10.1109/ISGTEUROPE62998.2024.10863772
artikkel kogumikus
2027
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reinforcement Learning-based Energy Management Strategy for Flexible Hybrid ac/dc Microgrid
Gutiérrez-Escalona, Javier
;
Roncero-Clemente, Carlos
;
Husev, Oleksandr
;
Matiushkin, Oleksandr
;
Barrero-González, Fermín
;
González-Romera, Eva
IECON 2024 - 50th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
2025
/
6 p
https://doi.org/10.1109/IECON55916.2024.10905501
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2028
artikkel kogumikus
Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG
Palermo, N.
;
Tihhomirov, Valentin
;
Copetti, Thiago
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102405
artikkel kogumikus
2029
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Rejuvenation of NBTI-impacted processors using evolutionary generation of assembler programs
Pellerey, Francesco
;
Jenihhin, Maksim
;
Squillero, Giovanni
;
Raik, Jaan
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Tihhomirov, Valentin
;
Ubar, Raimund-Johannes
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan
2016
/
p. 304-309 : ill
https://doi.org/10.1109/ATS.2016.57
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2030
artikkel kogumikus
Relation learning with bar charts
Lints, Taivo
IA'09 : IEEE Symposium on Intelligent Agents : Nashville, Tennessee, US, March 30-April 2, 2009
2009
/
p. 77-83
https://ieeexplore.ieee.org/document/4927503
artikkel kogumikus
2031
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Relations between modules associated to input-output nonlinear equations with delays and their realizations
Bartosiewicz, Zbigniew
;
Kaldmäe, Arvo
;
Kotta, Ülle
;
Wyrwas, Malgorzata
62nd IEEE Conference on Decision and Control, CDC 2023, Singapore, 13-15 December 2023
2023
/
p. 644-650
https://doi.org/10.1109/CDC49753.2023.10383927
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2032
artikkel kogumikus
Reliability analysis and energy yield of string-inverter considering monofacial and bifacial photovoltaic panels
Bouguerra, Sara
;
Yaiche, Mohamed Redha
;
Sangwongwanich, Ariya
;
Blaabjerg, Frede
;
Liivik, Elizaveta
2020 IEEE 11th International Symposium on Power Electronics for Distributed Generation Systems (PEDG), 28 Sept.-1 Oct. 2020, Dubrovnik, Croatia
2020
/
p. 199-204
https://doi.org/10.1109/PEDG48541.2020.9244425
artikkel kogumikus
2033
artikkel kogumikus
Reliability analysis of micro-inverters considering PV module variations and degradation rates
Liivik, Elizaveta
;
Sangwongwanich, Ariya
;
Blaabjerg, Frede
2018 20th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'18 ECCE Europe) : Riga, Latvia, 17-21 September 2018
2018
/
p. 1475-1482 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/8515325
artikkel kogumikus
2034
artikkel kogumikus
Reliability assessment of photovoltaic Buck-Boost microconverter for Estonian climate conditions
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
2023 IEEE 17th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG58103.2023.10227505
artikkel kogumikus
2035
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reliability evaluation of an impedance-source PV microconverter
Shen, Yanfeng
;
Liivik, Elizaveta
;
Blaabjerg, Frede
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Chub, Andrii
2018 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2018), San Antonio, Texas, USA, 4-8 March 2018
2018
/
p. 1104–1108 : ill
https://doi.org/10.1109/APEC.2018.8341154
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2036
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Reliability evaluation of isolated buck-boost DC-DC series resonant converter
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Shen, Yanfeng
IEEE open journal of power electronics
2022
/
p. 131-141
https://doi.org/10.1109/OJPEL.2022.3157200
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Fault-tolerant galvanically isolated DC‑DC converters with zero redundancy = Null-liiasusega veatolerantsed galvaanilise isolatsiooniga alalispingemuundurid
2037
artikkel kogumikus
Reliability evaluation of the universal power electronic interface converter for PV applications
Khan, Salman
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
;
Kasper, Matthias
;
Deboy, Gerald
2024 IEEE 21st International Power Electronics and Motion Control Conference (PEMC)
2024
/
8 p
https://doi.org/10.1109/PEMC61721.2024.10726360
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
2038
artikkel kogumikus
Reliability improvements for multiprocessor systems by health-aware task scheduling
Schmidt, Robert
;
Massoud, Rehab
;
Raik, Jaan
;
Garcia-Ortiz, Alberto
;
Drechsler, Rolf
2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2018) : 2 - 4 July 2018, Spain
2018
/
p. 247-250 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IOLTS.2018.8474101
artikkel kogumikus
2039
artikkel kogumikus
Reliability of DC-link capacitors in two-stage micro-inverters under different PV module sizes
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
ICPE 2019 - ECCE Asia : 10th International Conference on Power Electronics - ECCE Asia : "Green World with Power Electronics" : May 27-30, 2019 BEXCO, Busan, Korea
2019
/
p. 1867-1872 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/8786807/proceeding
artikkel kogumikus
2040
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reliability of electroencephalogram-based individual markers - case study
Uudeberg, Tuuli
;
Päeske, Laura
;
Hinrikus, Hiie
;
Lass, Jaanus
;
Bachmann, Maie
2020 42nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC)
2020
/
p. 276 - 279
https://doi.org/10.1109/EMBC44109.2020.9175274
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2041
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reliability study of input side capacitors in impedance-source PV microconverters
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Chub, Andrii
;
Shen, Yanfeng
IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society : proceedings
2019
/
p. 5026–5032 : ill
https://doi.org/10.1109/IECON.2019.8927173
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2042
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Reliability-critical computation offloading in UAV swarms
Rahbari, Dadmehr
;
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
;
Alam, Muhammad Mahtab
;
Le Moullec, Yannick
IEEE Systems Journal
2024
/
p. 1871-1882
https://doi.org/10.1109/JSYST.2024.3432449
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2043
artikkel kogumikus
Reliable health monitoring and fault management infrastructure based on embedded instrumentation and IEEE 1687
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
IEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings
2016
/
p. 240-249 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589605
artikkel kogumikus
2044
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Remote data transfer and comparative performance through PyBaMM and mathematical techniques in battery applications
Zequera, Rolando Antonio Gilbert
;
Rassõlkin, Anton
;
Belolipetskaja, Diana
2025 IEEE Seventh International Conference on DC Microgrids (ICDCM)
2025
/
6 p
https://doi.org/10.1109/ICDCM63994.2025.11144690
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2045
artikkel kogumikus
Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cells
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS 2018 : Budapest, Hungary 25-27 April, 2018 : proceedings
2018
/
p. 21-26 : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2018.00011
artikkel kogumikus
2046
artikkel kogumikus
Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Sauer, Christian
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
2020
/
art. 19889351, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
2047
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Requirements elicitation and specification using the agent paradigm : the case study of an aircraft turnaround simulator
Miller, Tim
;
Lu, Bin
;
Sterling, Leon
;
Beydoun, Ghassan
;
Taveter, Kuldar
IEEE transactions on software engineering
2014
/
p. 1007-1024 : ill
https://doi.org/10.1109/TSE.2014.2339827
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2048
artikkel kogumikus
Requirements to data acquisition and signal analysis for electrical grid condition monitoring
Anijärv, Toomas Erik
;
Shabbir, Noman
;
Kütt, Lauri
;
Iqbal, Muhammad Naveed
2020 IEEE 61st International Scientific Conference on Power and Electrical Engineering of Riga Technical University (RTUCON), Riga, Latvia, Nov. 5-7, 2020 : conference proceedings
2020
https://doi.org/10.1109/RTUCON51174.2020.9316487
artikkel kogumikus
2049
artikkel ajakirjas
RESAA: A Removal and Structural Analysis Attack Against Compound Logic Locking
Almeida, Felipe
;
Aksoy, Levent
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
2025
/
p. 1348-1360
https://doi.org//10.1109/TVLSI.2025.3534658
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Advanced Hardware Protection Mechanisms : A Study on Logic Locking and Circuit Obfuscation Techniques [Võrguteavik] = Täiustatud riistvara kaitsemehhanismid : uuring loogikalukustamise ja hägustamise tehnikate kohta
2050
artikkel kogumikus
RESCUE : cross-sectoral PhD training concept for interdependent reliability, security and quality
Vierhaus, Heinrich Theodor
;
Jenihhin, Maksim
;
Sonza Reorda, Matteo
2018 12th European Workshop on Microelectronics Education (EWME) : September 24–26, 2018
2018
/
p. 45-50 : ill
https://doi.org/10.1109/EWME.2018.8629465
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2613, kuvan
2026 - 2050
eelmine
78
79
80
81
82
83
84
85
86
87
järgmine
võtmesõna
9
1.
IEEE 1149.1
2.
IEEE 1687
3.
IEEE 802.15.6
4.
IEEE 802156
5.
IEEE 9 bus test system
6.
IEEE C37.118.1
7.
IEEE P1687
8.
IEEE Std. 1687
9.
24th IEEE International Conference on Industrial Technology 2023
TTÜ märksõna
1
1.
IEEE
märksõna
1
1.
IEEE
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT