Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 831
Vaata veel.. (4/149)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (831)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
576

artikkel kogumikus

Reseeding using compaction of pre-generated LFSR sub-sequencesJutman, Artur; Aleksejev, Igor; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesICECS 2008 : The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : Malta2008 / p. 1290-1295 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2008.4675096

artikkel kogumikus
577

artikkel kogumikus

Results of international cooperation for development and exchange of web-based educational materialsGramatova, Elena; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the III International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" : Minsk, Belorussia, 20032003 / p. 17-23

artikkel kogumikus
578

artikkel kogumikus

RT-level test point insertion for sequential circuitsRaik, Jaan; Govind, Vineeth; Ubar, Raimund-JohannesIWoTA 2004 : IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment : November 2, 2004, Rennes, France : proceedings2004 / p. 34-40 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1428412

artikkel kogumikus
579

artikkel ajakirjas

Salajane teadus EestisUbar, Raimund-JohannesTallinna Ülikoolid1998 / 2, lk. 38-39

artikkel ajakirjas
580

artikkel kogumikus

Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea2015 / p. 171-176 : ill

artikkel kogumikus
581

artikkel kogumikus

A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanProceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany2017 / p. 152-157 : ill https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553

artikkel kogumikus
582

artikkel ajakirjas

Second IEEE East-West Design and Test WorkshopHahanov, Vladimir; Ubar, Raimund-JohannesIEEE journal of design & test of computers2004 / p. 594

artikkel ajakirjas
583

dissertatsioon

Selected issues of modeling, verification and testing of digital systemsJutman, Artur2004 https://www.ester.ee/record=b1989760*est

dissertatsioon
584

raamat

Selected papers from the 1997 NORCHIP conferenceLande, Tor Sverre; Ubar, Raimund-Johannes1999

raamat
585

dissertatsioon

Self-diagnosis in digital systems = Isediagnoosivad digitaalsüsteemidKostin, Sergei2012 https://www.ester.ee/record=b2757857*est

dissertatsioon
586

artikkel kogumikus

Self-learning tool for digital testUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Evartson, TeetProceedings of 2nd International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of the XXI Century"2002 / p. 36-38 : ill

artikkel kogumikus
587

artikkel kogumikus

Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speedGorev, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, PeeterInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu2013 / p. 25-28 : ill

artikkel kogumikus
588

artikkel kogumikus

Sequential circuit test generation using decision diagram modelsRaik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesDesign, Automation and Test in Europe : DATE : Conference and Exhibition 1999 : Munich, Germany, March 9-12, 1999 : proceedings1999 / p. 736-740: ill

artikkel kogumikus
589

artikkel kogumikus

Sequential circuits BIST with status bit controlRaik, Jaan; Orasson, Elmet; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 11th International Conference : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2004 : Szczecin, Poland, 24-26 June 20042004 / p. 507-510 : ill https://pld.ttu.ee/~raiub/files/aaaaa_pulk/MIXDES/jaan.pdf

artikkel kogumikus
590

artikkel kogumikus

A set of tools for estimating quality of built-in self-test in digital circuitsJervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the International Symposium on Signals, Circuits and Systems, Iasi (Romania), October 2-3, 19971997 / p. 362-365

artikkel kogumikus
591

artikkel kogumikus

7-valued algebra for transition delay fault analysisKõusaar, Jaak; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia2014 / p. 89-92 : ill

artikkel kogumikus
592

artikkel kogumikus

Shared Structurally Synthesized BDDs for speeding-up parallel pattern simulation in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Jürimägi, Lembit; Raik, Jaan2015 Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP & International Symposium on System-on-Chip (SoC) : 1st IEEE NORCAS Conference : 26-28 October 2015, Oslo, Norway2015 / [4] p. : ill http://dx.doi.org/10.1109/NORCHIP.2015.7364406

artikkel kogumikus
593

artikkel kogumikus

Simulating system for minicomputer diagnostic programsKitsnik, Peeter; Ubar, Raimund-Johannes; Viilup, AguPreprints 1st IFAC/IFIP Symposium on Software for Computer Control, SOCOCO-76 : Tallinn, USSR, May 25-28, 19761976 / lk. [?] https://www.ester.ee/record=b1291026*est http://www.digar.ee/id/nlib-digar:451346

artikkel kogumikus
594

artikkel kogumikus

Simulation of digital systems with high-level decision diagramsMorawiec, Adam; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesThe 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings2000 / p. 35-38 : ill

artikkel kogumikus
595

dissertatsioon

Simulation-based hardware verification with high-level decision diagrams = Simuleerimisel põhinev riistvara verifitseerimine kõrgtaseme otsustusdiagrammidelJenihhin, Maksim2008 https://www.ester.ee/record=b2431332*est

dissertatsioon
596

artikkel kogumikus

Simulation-based verification with APRICOT framework using high-level decision diagramsJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesEast-West Design & Test Symposium : Moscow, September 18-21, 20092009 / p. 13-16 : ill

artikkel kogumikus
597

artikkel ajakirjas

Single gate design error diagnosis in combinational circuitsUbar, Raimund-Johannes; Borrione, DominiqueProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering1999 / 1, p. 3-21: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1000315*est

artikkel ajakirjas
598

artikkel kogumikus

SoC and board modeling for processor-centric board testingTšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Devadze, Sergei14th Euromicro Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : DSD 2011 : 31 August - 2 September 2011, Oulu, Finland : proceedings2011 / p. 575-582 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/6037463

artikkel kogumikus
599

dissertatsioon

Software-based self-test for microprocessors with high-level decision diagrams = Mikroprotsessorite tarkvara-põhine enesetestimine kõrgtasandi otsustusdiagrammide põhjalJasnetski, Artjom2018 https://digi.lib.ttu.ee/i/?10629 https://www.ester.ee/record=b5151486*est

dissertatsioon
600

artikkel kogumikus

Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Tšertov, Anton; Jasnetski, Artjom; Brik, MarinaLATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 20142014 / [6] p. : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 831, kuvan 576 - 600

eelmine
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes
2. Palm, Raimund
3. Räämet, Raimund 1918-2004
4. Aare, Johannes 1915-2000
5. Aavik, Eduard-Johannes
6. Ahrenschild, Johannes (-1936)
7. Alaots, Johannes
8. Aljak, Arnold Johannes
9. Allik, Erich-Johannes
10. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12. Ehala, Johannes
13. Hint, Johannes 1914-1985
14. Johannes, Ille
15. Johannson, Johannes
16. Johanson, Johannes
17. Juhans, Johannes 1874-1956
18. Kajander, Aleksi Oskar Johannes
19. Kiiwet, Johannes
20. Kiivet, Johannes 1879-1967
21. Kivit, Johannes
22. Kollist, Johannes 1884-1937
23. Kollist, Johannes Theodor
24. Korv, August Johannes 1911-1981
25. Krimmer, Robert Johannes
26. Käpp, Martin Johannes
27. Langel, Johannes 1900-1985
28. Langell, Johannes
29. Livländer, Robert Johannes
30. Lutsar, Richard-Johannes
31. Madise, Johannes 1920-?
32. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33. Matsulevitš, Johannes
34. Meitre, Johannes 1906-1978
35. Messer, Johannes
36. Muru, Johannes
37. Mäll, Johannes 1911-1981
38. Mühlman, Johannes
39. Mühlmann, Johannes 1888-1936
40. Notermans, Antonius Johannes Hubertus
41. Nuudi, Johannes 1895-1975
42. Palo, Johannes 1925-1960
43. Pals, Johannes 1903-1941
44. Pello, Johannes
45. Pervik, Johannes 1892-1958
46. Pervik, Johannes-Eduard
47. Presmann, Johannes 1942-2013
48. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49. Püümann, Mait Johannes
50. Renter, Olav-Johannes
51. Roes, Johannes
52. Russwurm, Johannes
53. Russvurm, Johannes 1855-1939
54. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55. Sakeus, Johannes 1880-1934
56. Taimsalu, Johannes 1891-1942
57. Teiman, Johannes
58. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59. Tomson, Johannes
60. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62. Verus, Johannes Voldemar
63. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu