Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

176

artikkel kogumikus

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switchesRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Govind, Vineeth12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 29-34 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41

artikkel kogumikus

177

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus

178

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST of core-based systemsJervan, Gert; Eles, Petru; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China2003 / p. 318-325 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x

artikkel kogumikus

179

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcastingUbar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Jervan, Gert; Peng, ZeboIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 112-116 : ill https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

artikkel kogumikus

180

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 31st ASEE/IEEE Frontiers in Educations Conference : FIE'2001 : Reno, Nevada2001 / p. SIE-2-7 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

181

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichFIE 2001 : 31st Annual Frontiers in Educations Conference : Impact on Engineering and Science Education : Reno, Nevada, October 10-13, 2001 : conference program2001 / p. 83 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

182

artikkel ajalehes

Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim JenihhinJenihhin, Maksimforte.delfi.ee2024 Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin

artikkel ajalehes

183

artikkel kogumikus

Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDsUbar, Raimund-Johannes; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Jutman, Artur12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 131-136 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43

artikkel kogumikus

184

artikkel kogumikus

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checkingRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, AnnaProceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan2008 / p. 21-26 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22

artikkel kogumikus

185

artikkel ajakirjas

Uudne turvaline kiibitehnoloogiaRaik, JaanMente et Manu2021 / lk. 32-33 : fot Mente et Manu 2/2021

artikkel ajakirjas

186

artikkel ajalehes

Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkondaBioneer.ee2023 Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda

artikkel ajalehes

187

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Versatile direct and transpose matrix multiplication with chained operations : an optimized architecture using circulant matricesIakymchuk, Taras; Rosado-Munoz, Alfredo; Mompean, Manuel Bataller; Villora, Jose Vicente Frances; Osimiry, Emmanuel OvieIEEE Transactions on Computers2016 / p. 3470 - 3479 https://doi.org/10.1109/TC.2016.2538235 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

188

artikkel kogumikus

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

artikkel kogumikus

189

artikkel ajalehes

Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbileHärmat, Karinerr.ee2023 Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile

artikkel ajalehes

190

artikkel ajakirjas

XXI sajandi arvutiToomsalu, ArvoA & A2000 / 1, lk. 8-13 ; 2, lk. 8-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1003324*est

artikkel ajakirjas

191

artikkel kogumikus

Быстродействующие интегральные компараторыGurjanov, Boris; Tamm, UljasIX Всесоюзная научно-техническая конференция по микроэлектронике, г. Казань, 14-17 окт. 1980 г. : тезисы докладов1980 / с. 88

artikkel kogumikus

192

artikkel kogumikus

Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопеMeiler, BorissЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 85-92 https://www.ester.ee/record=b1296001*est

artikkel kogumikus

193

artikkel kogumikus

Измеритель коэффициента шума интегральных усилителейTammet, Heinar; Torim, A.A.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной 80-летию со дня изобретения радио А. С. Поповым1975 / с. 93 https://www.ester.ee/record=b1322122*est

artikkel kogumikus

194

artikkel kogumikus

Измеритель шумов интегральных схемKoiduste, A.; Tammet, HeinarXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 11974 / с. 147 https://www.ester.ee/record=b1306141*est

artikkel kogumikus

195

dissertatsioon

Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)Rätsep, Ülo1983 https://www.ester.ee/record=b1522476*est

dissertatsioon

196

artikkel ajakirjas

Коэффициенное ударное ионизацеи носителей заряда в <100> арсениде галлияRang, Toomas; Puusepp, MärtЭлектронная техника. Серия 2, Полупроводниковые приборы : научно-технический сборник1987 / с. 98-100 https://www.ester.ee/record=b2160501*est

artikkel ajakirjas

197

artikkel kogumikus

Метод исследования комплексного влияния параметров технологического микроклимата на качество полупроводниковых интегральных микросхемRätsep, ÜloТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции "Современные методы и устройства радиоэлектронного оборудования", посвященной Дню радио. Секция: полупроводниковые приборы1981 / с. 81-82 https://www.ester.ee/record=b1310801*est

artikkel kogumikus

198

raamat

Методическое пособие к лабораторным работам и курсовому проектированию по дисциплине "Схемотехника ЭВМ"1987 https://www.ester.ee/record=b1354263*est

raamat

199

artikkel kogumikus

Методы идентификации шумовых источников интегральных схемTammet, HeinarТезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, Таллин, 19771977 / с. 87-88 https://www.ester.ee/record=b1313776*est

artikkel kogumikus

200

artikkel kogumikus

Оценка тенденции использования некоторых видов микросхемMaltsev, Jüri; Ševtšenko, S.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио. [1], Секция: Информационно-измерительная техника1981 / с. 25-26 https://www.ester.ee/record=b1310782~S1*est

artikkel kogumikus

integraallülitused (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1