Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL SlicingBagbaba, Ahmet Cagri; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Sauer, Christian2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore2019 / 7 p. : ill https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

2

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Automated identification of application-dependent safe faults in automotive systems-on-a-chipsBagbaba, Ahmet Cagri; Augusto da Silva, Felipe; Sonza Reorda, Matteo; Hamdioui, Said; Jenihhin, Maksim; Sauer, ChristianElectronics2022 / art. 319 https://doi.org/10.3390/electronics11030319 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

3

artikkel kogumikus

Combining fault analysis technologies for ISO26262 functional safety verificationAugusto da Silva, Felipe; Bagbaba, Ahmet Cagri; Hamdioui, Said; Sauer, Christian2019 IEEE 28th Asian Test Symposium (ATS) : 10–13 December 2019, Kolkata, India : proceedings2019 / p. 129–134 : ill https://doi.org/10.1109/ATS47505.2019.00024

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

4

artikkel kogumikus

Determined-safe faults identification : a step towards ISO26262 hardware compliant designsAugusto da Silva, Felipe; Bagbaba, Ahmet Cagri; Sartoni, Sandro; Cantoro, Riccardo; Sonza Reorda, Matteo; Hamdioui, Said; Sauer, Christian2020 25th IEEE European Test Symposium (ETS)2020 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131568

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

5

artikkel kogumikus

Efficient fault injection based on dynamic HDL slicing techniqueBagbaba, Ahmet Cagri; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Sauer, Christian2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece2019 / p. 52-53 : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854419

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

6

artikkel kogumikus

Efficient methodology for ISO26262 functional safety verificationAugusto da Silva, Felipe; Bagbaba, Ahmet Cagri; Hamdioui, Said; Sauer, Christian2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Rhodes, Greece2019 / p. 255-256 https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854449

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

7

artikkel kogumikus

Improving the confidence level in functional safety simulation tools for ISO 26262Bagbaba, Ahmet Cagri; Augusto da Silva, Felipe; Sauer, Christian2018 Design and Verification Conference (DVCON) Europe : [proceedings]2018 / 6 p. : ill https://dvcon-proceedings.org/document/improving-the-confidence-level-in-functional-safety-simulation-tools-for-iso-26262/ https://zenodo.org/record/3361607#.Y0PHFnZByHs

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

8

dissertatsioon

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseksBagbaba, Ahmet Cagri2022 https://doi.org/10.23658/taltech.9/2022 https://digikogu.taltech.ee/et/Item/58b0b89d-b1ba-4a73-ba53-850910d697b5 https://www.ester.ee/record=b5491885*est

dissertatsioon

Seotud publikatsioonid 10

9

artikkel kogumikus

Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-levelBagbaba, Ahmet Cagri; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Sauer, Christian2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings2020 / art. 19889351, 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

10

artikkel kogumikus

RESCUE EDA Toolset for interdependent aspects of reliability, security and quality in nanoelectronic systems designGürsoy, Cemil Cem; Cardoso Medeiros, Guilherme; Chen, Juanho; Balakrishnan, Aneesh; Lai, Xinhui; Bagbaba, Ahmet Cagri; Raik, Jaan; Jenihhin, MaksimDATE 20192019 / 1 p. : ill https://doi.org/10.5281/zenodo.3362529 https://past.date-conference.com/

artikkel kogumikus

11

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Special session : AutoSoC - a suite of open-source automotive SoC benchmarksSilva, Felipe Augusto da; Bagbaba, Ahmet Cagri; Ruospo, Annachiara; Jenihhin, Maksim2020 IEEE 38th VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS) - VTS 2020 : proceedings2020 / 9 p. : ill https://doi.org/10.1109/VTS48691.2020.9107599 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

12

artikkel kogumikus

Use of formal methods for verification and optimization of fault lists in the scope of ISO26262Augusto da Silva, Felipe; Bagbaba, Ahmet Cagri; Hamdioui, Said; Sauer, Christian2018 Design and Verification Conference (DVCON) Europe : [proceedings]2018 / 6 p. : ill https://repository.tudelft.nl/islandora/object/uuid%3Adbd7f22d-0324-45f5-9180-8fe3fc95a9ce

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

Bagbaba, Ahmet Cagri (TTÜ autor)

teaviku laadid

autor 7

CV 5

tema kohta 2