Bagbaba, A. C., Jenihhin, M., Raik, J., Sauer, C.

prindi

Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing

autor

Bagbaba, Ahmet Cagri

Jenihhin, Maksim

Raik, Jaan

Sauer, Christian

vastutusandmed

Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Christian Sauer

allikas

2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore

ilmumiskoht

Danvers

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2019

leheküljed

7 p. : ill

konverentsi nimetus, aeg

2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019

konverentsi toimumispaik

Helsinki, Finland

leitav

https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932

märksõna

rikked

tõrketaluvus

kompuutersimulatsioon

töökindlus

ohutus

võtmesõna

fault injection

fault simulation

functional safety

transient faults

ISO26262

RTL

CPU

ISBN

978-1-7281-2769-9

märkused

Bibliogr.: 24 ref

teaduspublikatsioon

klassifikaator

3.1

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Bagbaba, A. C., Jenihhin, M., Raik, J., Sauer, C. Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing // 2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore. Danvers : IEEE, 2019. 7 p. : ill. https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932