Otsing - TalTech teadusportaal

21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) 2020 : proceedings (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Wafer-level die re-test success prediction using machine learningSelg, Hardi; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) 2020 : proceedings2020 / 5 p https://doi.org/10.1109/LATS49555.2020.9093672

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1