Otsing - TalTech teadusportaal

Critical analysis of uncertainty relations based on signal duration and spectrum width (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Critical analysis of uncertainty relations based on signal duration and spectrum widthUdal, Andres; Kukk, Vello; Velmre, EnnElektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering2009 / p. 31-34 : ill https://www.ester.ee/record=b1200105*est https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/10098

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1