Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

Achieving accuracy in charge carrier mobility modelling in siliconMnatsakanov, T.T.; Gresserov, B.N.; Pomortseva, L.I.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 89-94: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

2

artikkel kogumikus

CAD in the education of microelectronics at the Technical University of BudapestSzekely, V.; Tarnay, K.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 146-151 https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

3

artikkel kogumikus

CAD of CCD VLSIZaycev, S.N.; Kanunnikov, A.I.; Pugachev, A.A.; Shilin, V.A.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 120-122: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

4

artikkel kogumikus

Class-E inverter: SPICE simulation including parasitic elementsLiberatore, A.; Manetti, S.; Piccirilli, Maria Cristina; Reatti, A.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 69-75: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

5

artikkel kogumikus

Complex simulation of punchthrough, tunneling and high-speed characteristics of scaled bipolar devices and circuitsBubennikov, Alexander N.; Ishevsky, D.V.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 26-31: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

6

artikkel kogumikus

Computation of MOS transistor channel currents using Gear methods in SPICECremascoli, Paolo; Gubian, Paolo; Zanella, MarinaAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 59-68: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

7

artikkel kogumikus

Computational methods for semiconductor device simulation using adaptive composite gridsBoglaev, I.P.; Sirotkin, V.V.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 76-82: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

8

artikkel kogumikus

Computer-aided analysis of the GTO thyristor current squeezing effectVelmre, Enn; Udal, AndresAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 159-171: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

9

artikkel kogumikus

Determination of transistor low freqency noise parameters for SPICE programmeZeltinš, M.; Slaidinš, I.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 127-131: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

10

artikkel kogumikus

The effective calculate scheme of the conjugate gradient methodMulyarchick, S.G.; Belyavsky, S.S.; Popov, A.V.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 47-52: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

11

artikkel kogumikus

Estonian electronic industryRang, ToomasAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 4-10: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

12

artikkel kogumikus

Generalization of longitudinal-lateral scheme for two-dimensional transient semiconductor device simulationGunko, V.B.; Kucherenko, S.S.; Kudryashov, N.A.; Sytsko, Yu.I.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 107-112: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

13

artikkel kogumikus

The investigation of distributed non-quasi-static high-current-density effects in advanced transistorsBubennikov, Alexander; Kargashin, A.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 32-40: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

14

artikkel kogumikus

ISTOC-2D: system of mixed device-circuit modeling for personal computerPhilatov, N.I.; Nakropin, B.O.; Yakovlev, D.G.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 95-100: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

15

artikkel kogumikus

Model reduction in VLSI circuit designRogoza, V.S.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 113-119: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

16

artikkel kogumikus

Nonisothermal numerical simulation of semiconductor power devicesVelmre, Enn; Udal, AndresAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 139-145: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

17

artikkel kogumikus

Numerical calculations of transient characteristics of a vertical field effect phototransistor taking into account resistance on the gateAbashkina, S.; Rimshans, J.; Korolkov, V.I.; Tabarov, T.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 83-88: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

18

artikkel kogumikus

Numerical scaling and speed-pover-optimization of polysilicon transistors & circuitsBubennikov, AlexanderAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 41-46: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

19

artikkel kogumikus

Numerical simulation of photoelectric processes in semiconductor devicesKucherenko, S.S.; Kudryashov, N.A.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 101-106: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

20

artikkel kogumikus

A power fast reverse turn-on diode thyristor ТБР143Graujnis, V.; Kovrov, A.; Kuzmin, V.; Hanstin, R.; Toomla, O.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 132-138: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

21

artikkel kogumikus

The program for solving the scalar potential by using finite element method for IBM PCDmytryshyn, O.; Tchaban, V.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 53-58: ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

22

artikkel kogumikus

Simulation of charge transfer in CCDs for low temperature applicationsZaycev, S.N.; Zinis, K.A.; Chernokogin, V.V.; Shilin, V.A.Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 123-126 https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

23

artikkel kogumikus

Überblick der Situation in der Deutschen Elektronik- und InformatikindustrieRang, ToomasAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / S. 11-25: Ill https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

24

artikkel kogumikus

Обобщенные формулы для анализа лавинного умножения носителей заряда в pn-переходахVelmre, EnnAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / с. 172-183: ил https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

25

artikkel kogumikus

Расчет и оптимизация параметров запираемых тиристоров с учетом внешней цепиКуузик Э.И.; Кыверик К.Х.; Свирин А.В.; Udal, AndresAutomation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / с. 184-199: ил https://www.ester.ee/record=b1064031*est

artikkel kogumikus

Automation, simulation & measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991. Section S, Simulation = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool (allikas)

teaviku laadid